Монокристаллическая кремниевая пластина N-типа G1 имеет полную квадратную 158,75 × 158,75 мм конструкцию, максимизируя экспозицию света и эффективность модуля. Изготовлен с использованием метода CZ с легированием фосфора, он предлагает превосходное качество материала, низкую плотность дислокации (меньше или равна 500 см²) и<100>кристаллическая ориентация. При проводимости N-типа диапазон удельного сопротивления 0,5–7 Ом · см и срок службы носителя до большего или равенного 1000 мкс, он хорошо подходит для высокоэффективных клеточных технологий, таких как TopCon и HJT. Его полная квадратная форма и плотные геометрические допуски обеспечивают оптимальную интеграцию и производительность модуля.
1. Свойства материала
|
Свойство |
Спецификация |
Метод проверки |
|
Метод роста |
Сумка |
|
|
Кристалличность |
Монокристаллический |
ПРЕДОСТАВЛЕНИЯ ТЕХНИКА(ASTM F47-88) |
|
Тип проводимости |
N-тип |
Назсон EC-80TPN |
|
Добанта |
Фосфор |
- |
|
Концентрация кислорода [oi] |
Меньше или равен8e +17 at/cm3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
|
Концентрация углерода [CS] |
Меньше или равен5e +16 at/cm3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
|
Плотность ямы травления (плотность дислокации) |
Меньше или равен500 см-2 |
ПРЕДОСТАВЛЕНИЯ ТЕХНИКА(ASTM F47-88) |
|
Поверхностная ориентация |
<100>± 3 градуса |
Метод дифракции рентгеновских лучей (ASTM F26-1987) |
|
Ориентация псевдо -квадратных сторон |
<010>,<001>± 3 градуса |
Метод дифракции рентгеновских лучей (ASTM F26-1987) |
2. Электрические свойства
|
Свойство |
Спецификация |
Метод проверки |
|
Удельное сопротивление |
1,0-7,0 ω.cm
|
Система проверки пластины |
|
MCLT (Mitherity Carrier Lifetime) |
Больше или равен 1000 мкс (удельное сопротивление ＞ 1,0ohm.cm)
Больше или равен 500 мкс (удельное сопротивление ＜ 1,0ohm.cm)
|
Синтон BCT-400 QSSPC/Transiet
(с уровнем инъекции: 1E15 см -3)
|
3. Геометрия
|
Свойство |
Спецификация |
Метод проверки |
|
Геометрия |
Псевдо -квадрат |
|
|
Форма края скоса
|
круглый | |
|
Длина боковой платы |
182 ± 0,25 мм
|
Система проверки пластины |
|
Диаметр пластины |
φ247 ± 0,25 мм |
Система проверки пластины |
|
Угол между соседними сторонами |
90 градусов ± 0,2 градуса |
Система проверки пластины |
|
Толщина |
180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
|
Система проверки пластины |
|
TTV (общее изменение толщины) |
Меньше или равен 27 µm |
Система проверки пластины |
4.Поверхностные свойства
|
Свойство |
Спецификация |
Метод проверки |
|
Метод резки |
DW |
-- |
|
Качество поверхности |
Поскольку и очищено, без видимого загрязнения (масло или жира, отпечатки пальцев, мыльные пятна, пятна от суспензии, пятна эпоксидной смолы/клея не допускаются) |
Система проверки пластины |
|
Видели следы / шаги |
Меньше или равен 15 мкм |
Система проверки пластины |
|
Поклон |
Меньше или равен 40 мкм |
Система проверки пластины |
|
Деформация |
Меньше или равен 40 мкм |
Система проверки пластины |
|
Чип |
глубина меньше или равна 0,3 мм и длиной меньше или равна 0,5 мм макс 2/ПК; Нет V-Chip |
Обнаженные глаза или система проверки пластин |
|
Микро трещины / отверстия |
Не разрешен |
Система проверки пластины |
горячая этикетка : N-тип G1 монокристаллическая кремниевая спецификация, Китай, поставщики, производители, фабрика, сделанные в Китае
