P Тип 166мм Монокристаллическая солнечная пластина

P Тип 166мм Монокристаллическая солнечная пластина

166mmx166mm M6 монокристаллическая кремниевая солнечная пластина диаметром 223мм на 12,21% больше, чем пластина M2.
Share to
Отправить запрос
Теперь говорите
Описание
Технические параметры


166mmx166mm solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


166mmx166mm M6 монокристаллическая кремниевая солнечная пластина диаметром 223мм на 12,21% больше, чем пластина M2. Таким образом, солнечные элементы, изготовленные из подложки M6, будут на 12,21% выше выходной мощности, чем у подложки M2.


1      Свойства материала

 

свойство

спецификация

Метод контроля

Метод роста

ЧР


Кристалличности

Монокристаллический

 

Предпочтительные методы травливания(АСТМ Ф47-88)

Тип проводимости

дырочный

Напсон EC-80TPN

П/Н

Допант

 

Бор, галлий

 

-

Концентрация кислорода[Oi]

≦8E+17 ат/см3

ФТИР (ASTM F121-83)

Концентрация углерода [Cs]

≦5E+16 ат/см3

ФТИР (ASTM F123-91)

Плотность травилочные ямы (плотность дислокации)

≦500 см-3

Предпочтительные методы травливания(АСТМ Ф47-88)

Ориентация поверхности

<100>±3°

Метод дифракции рентгеновских лучей (ASTM F26-1987)

Ориентация псевдоквагоров

<010>,<001>±3°

Метод дифракции рентгеновских лучей (ASTM F26-1987)

 

2      Электрические свойства

 

свойство

спецификация

Метод контроля

удельное сопротивление

0,5-1,5 Ом см

Система контроля пластин

MCLT (срок службы миноритарного перевозчика)

≧50 мкс

Синтон BCT-400

(с уровнем впрыска: 1E15 см-3)

 

3      геометрия

 

свойство

спецификация

Метод контроля

геометрия

Полный квадрат


Длина стороны пластины

166±0.25 мм

система контроля пластин

Диаметр пластины

φ223±0.25 мм

система контроля пластин

Угол между соседними сторонами

90° ± 0.2°

система контроля пластин

толщина

180﹢20/﹣10 мкм;

170﹢20/﹣10 мкм

система контроля пластин

TTV (Изменение общей толщины)

≤27 мкм

система контроля пластин


 166mmx166mm M6 solar wafer

 

 

4      Свойства поверхности

 

свойство

спецификация

Метод контроля

Метод резки

Д.У.

--

Качество поверхности

в виде разрезания и очистки, без видимых загрязнений (масло или жир, отпечатки пальцев, мыльные пятна, пятна навозной жижи, пятна эпоксидной смолы / клея не допускаются)

система контроля пластин

Следы пилы / ступени

≤ 15 мкм

система контроля пластин

лук

≤ 40 мкм

система контроля пластин

основа

≤ 40 мкм

система контроля пластин

чип

глубина ≤0,3 мм и длина ≤ 0,5 мм Макс 2 / шт;   без V-чипа

Невооруженным глазом или система контроля пластин

Микро трещины / отверстия

Не допускается

система контроля пластин




горячая этикетка : p тип 166 мм монокристаллическая солнечная пластина, Китай, поставщики, производители, завод, сделано в Китае

Отправить запрос
Отправить запрос