Производители солнечных панелей официально начали усилия по созданию нового стандарта размеров пластин большой площади «M10» (монокристаллические пластины p-типа 182 мм x 182 мм), чтобы снизить производственные затраты во всей цепочке поставок солнечной энергетики, поскольку количество пластин большой площади увеличилось. возникла в последние несколько лет.
1. Свойства материала
Имущество | Технические характеристики | Метод проверки |
Метод выращивания | CZ | -- |
Кристалличность | Монокристаллический кремний | Предпочтительные техники травления（ASTM F47-88） |
Тип проводимости | P-тип | Напсон ЕС-80ТПН P / N тестер |
Допант | Бор / Галлий | -- |
Концентрация кислорода [Oi] | ≤9E + 17 ат / см3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Концентрация углерода [Cs] | ≤ 4E + 16 ат / см3 | FTIR（ASTM F123-91） |
Плотность ямок травления (плотность дислокаций) | ≤ 500 см-2 | Предпочтительные техники травления（ASTM F47-88） |
Ориентация поверхности | & lt; 100> ± 3 ° | Метод рентгеновской дифракции（ASTM F26-1987） |
Ориентация сторон псевдоквадрата | & lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Метод рентгеновской дифракции（ASTM F26-1987） |
2. Электрические свойства
Имущество | Технические характеристики | Метод проверки |
Удельное сопротивление | 0,4-1,5 Ом · см | система контроля пластин |
MCLT (Срок службы миноритарного носителя) | ≥50µs | Синтон BCT-400 QSSPC / переходный процесс (с уровнем впрыска: 1E15 см-3) |
3. Геометрия
Имущество | Технические характеристики | Метод проверки |
Геометрия | псевдоквадрат | -- |
Форма скошенной кромки | Круглый | -- |
Длина стороны вафли | 182±0,25 мм | система контроля пластин |
Диаметр вафли | φ247±0,25 мм | система контроля пластин |
Угол между соседними сторонами | 90° ± 0.2° | система контроля пластин |
Толщина | 180﹢ 20/﹣10 µm 175﹢ 20/﹣10 µm 170﹢ 20/﹣10 µm 160﹢ 20/﹣10 µm 150﹢ 20/﹣10 µm Другой | система контроля пластин |
TTV (изменение общей толщины) | ≤ 28µm | система контроля пластин |
4. Свойства поверхности
Имущество | Технические характеристики | Метод проверки |
Метод резки | Алмазная канатная пила | -- |
Качество поверхности | в чистом виде, без видимых загрязнений (масло или жир, отпечатки пальцев, пятна, остатки эпоксидной смолы / клея недопустимы) | система контроля пластин |
Следы пилы | ≤ 15µm | система контроля пластин |
Поклон | ≤ 40 µm | система контроля пластин |
Деформация | ≤ 40 µm | система контроля пластин |
Чип | глубина ≤0,3 мм и длина ≤ 0,5 мм Макс. 2 шт. / шт .; нет V-образного чипа | Система проверки невооруженным глазом или пластины |
Микротрещины / отверстия | Не допускается | система контроля пластин |